Ing. Marek Mach, Ph.D. [ vědecký pracovník, TOPTEC ]

Pracoviště: TUR, místnost: Sob1
Tel.: 487 953 901
Email: mach@ipp.cas.cz

Výzkumné projekty

2023-2028Centrum pokročilé elektronové a fotonové optiky
Spoluřešitel
Poskytovatel: Technologická agentura České republiky; ID projektu: TN02000020
2024-2028Průlomové laserové technologie pro chytrou výrobu, vesmírné a biotechnologické aplikace
Spoluřešitel
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy; ID projektu: EH22_008/0004573
2025-2027Inteligentní systém pro online kontrolu kvality příze
Spoluřešitel
Poskytovatel: Technologická agentura České republiky; ID projektu: FW12010339
2021-2024Vývoj procesu lisování přesných optických elementů
Spoluřešitel
Poskytovatel: Technologická agentura České republiky; ID projektu: FW03010254
2021-2023Osvětlovací systémy nové generace
Hlavní řešitel
Poskytovatel: Ministerstvo průmyslu a obchodu; ID projektu: EG21_374/0026828

Seznam publikací

2023Mach M., Psota P., Žídek K., Mokrý P.: Compact lensless Fizeau holographic interferometry for imaging domain patterns in ferroelectric single crystals. Applied Optics 62 [10] (2023) 2522-2530.
[ Link ]
 
 Mach M., Stašík M., Kaván F., Mokrý P., Lédl V., Psota P.: Subaperture stitching digital holographic microscopy for precise wear volume measurement in tribology. Applied Optics 62 [8] (2023) 2137-2144.
[ Link ]
 
 Mach M., Psota P., Žídek K., Mokrý P.: On-chip digital holographic interferometry for measuring wavefront deformation in transparent samples. Optics Express 31 [11] (2023) 17185-17200.
[ Link ]
 
2022Mach M., Stašík M., Kaván F.: Digital stitching holographic microscopy for precise tribology measurement. Optics InfoBase Conference Papers. Washington: Optica, 2022, č. článku 3D.2022.JW5C.2. ISBN 978-1-957171-09-8.
[Imaging and Applied Optics Congress 2022. Vancouver (CA), 11.07.2022-15.07.2022]
[ Link ]
 
2020Kredba J., Stašík M., Mach M., Matoušek O., Karabyn V.: Surface form characterization of plane-parallel elements using frequency-tuned phase-shifting interferometry. Proceedings of SPIE. Vol. 11490. Bellingham: SPIE, 2020, č. článku 1149010. ISBN 978-1-5106-3787-0.
[Conference on Interferometry XX. ELECTR NETWORK (US), 24.08.2020-04.09.2020]
[ Link ]
 
 Stašík M., Kaván F., Mach M., Sedláčková K., Kredba J., Špína M.: Advanced Measurement Procedure for Interferometric Microscope for Three-dimensional Imaging of Complex Surfaces Using Two-wavelength Interferometry and Reference Arm Attenuation. Sensors & Transducers Journal 247 [8] (2020) 8-17.
2018Mach M., Psota P.: Měření topografie povrchu metodou multivlnné interferometrie. Jemná mechanika a optika 63 [3] (2018) 85-87.
[ Anotace ]